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  • GL900-8 數(shu)據記錄(lu)儀產品概述 近年來,對于電(dian)氣(qi)產品與工業產品,提(ti)高其可靠性已成為重要的開發要素(su)。諸如跌落試驗(yan)(yan) 振(zhen)動(dong)試驗(yan)(yan)撞擊(ji)試驗(yan)(yan)環境試驗(yan)(yan)等,各(ge)類(lei)(lei)*的試驗(yan)(yan)應運而生。 尤其是(shi)可動(dong)部與驅(qu)動(dong)部耐久(jiu)試驗(yan)(yan)等,需反復進(jin)行(xing)(xing)數(shu)萬次試驗(yan)(yan)與數(shu)千小(xiao)時的耐久(jiu)試驗(yan)(yan)。在此背景下(xia),測量機器需具(ju)備可進(jin)行(xing)(xing)高速取樣與長時間(jian)(jian)數(shu)據收錄(lu)性能(neng)、可對各(ge)類(lei)(lei)現象(電(dian)壓(ya)/溫度/高電(dian)壓(ya))實現同時測定(ding)。 此外(wai),用多種(zhong)產品進(jin)行(xing)(xing)長時間(jian)(jian)及耐久(jiu)試驗(yan)(yan)

  • GL900-4 數(shu)據(ju)記錄儀(yi)產(chan)(chan)(chan)品概述 近年來(lai),對于(yu)電氣產(chan)(chan)(chan)品與(yu)(yu)工業產(chan)(chan)(chan)品,提(ti)高其可靠性已(yi)成為重要的(de)開發要素。諸如跌落試(shi)(shi)驗(yan) 振動(dong)試(shi)(shi)驗(yan)撞擊(ji)試(shi)(shi)驗(yan)環境試(shi)(shi)驗(yan)等,各類*的(de)試(shi)(shi)驗(yan)應運而生。 尤其是(shi)可動(dong)部與(yu)(yu)驅動(dong)部耐久試(shi)(shi)驗(yan)等,需(xu)反復進(jin)行數(shu)萬(wan)次試(shi)(shi)驗(yan)與(yu)(yu)數(shu)千小時(shi)的(de)耐久試(shi)(shi)驗(yan)。在此(ci)背景下,測量機器需(xu)具備可進(jin)行高速取樣與(yu)(yu)長時(shi)間數(shu)據(ju)收錄性能、可對各類現象(電壓/溫度/高電壓)實(shi)現同時(shi)測定(ding)。 此(ci)外,用多種(zhong)產(chan)(chan)(chan)品進(jin)行長時(shi)間及耐久試(shi)(shi)驗(yan)

  • GL840 數據記錄(lu)儀產品概述 [高耐(nai)壓·高精度(du)(du)(du)]和(he)(he)[標(biao)準(zhun)]的(de)2個(ge)產品型號 較(jiao)適合多通道溫度(du)(du)(du)測(ce)量的(de)[標(biao)準(zhun)型 GL840-M]外(wai)、增加了適合充電(dian)電(dian)池的(de)電(dian)壓測(ce)量和(he)(he)高精度(du)(du)(du)溫度(du)(du)(du)測(ce)量的(de)[高耐(nai)壓·高精度(du)(du)(du)型 GL840-WV]。

  • GL820 數(shu)據記錄儀產(chan)品(pin)(pin)概(gai)述 midi LOGGER GL820是一款重視擴展性(xing)的(de)模(mo)式產(chan)品(pin)(pin)。頻(pin)道數(shu)大可由(you)標準20ch擴展至200ch。除(chu)采用可放心(xin)檢測的(de)全頻(pin)道絕緣輸(shu)入方(fang)式外(wai)(wai),還可實(shi)現電壓(ya)/溫(wen)度/濕度/脈沖/邏輯等多(duo)樣(yang)化輸(shu)入。為提升耐噪(zao)音性(xing),產(chan)品(pin)(pin)搭載了⊿Σ型(xing)的(de)A/D變頻(pin)器,以(yi)此提高高頻(pin)率(lv)噪(zao)音的(de)消除(chu)效(xiao)率(lv)。 此外(wai)(wai),產(chan)品(pin)(pin)還裝配了適用于多(duo)通(tong)道數(shu)據監(jian)控(kong)的(de)以(yi)太網(wang),可進行遠程監(jian)控(kong)。存(cun)儲(chu)媒體(ti)可使(shi)用USB存(cun)儲(chu)器,

  • GL240 數(shu)據記錄儀(yi)產品概述 無線LAN下的(de)無線測(ce)定(ding) 通過路由(you)器,可(ke)簡單實(shi)現在(zai)局(ju)域網和英特網內的(de)無線測(ce)定(ding)。也(ye)可(ke)進(jin)行(xing)遠(yuan)程監控(kong)。 支持多樣化的(de)測(ce)定(ding) 采用各類(lei)輸入信(xin)號(hao)不受他通道影響的(de)全通道絕緣輸入方式(shi)。多功能模擬信(xin)號(hao)輸入接口,支持多樣化的(de)測(ce)定(ding)。 標配4GB存儲卡進(jin)行(xing)可(ke)信(xin)性高的(de)長時間測(ce)量(liang) 標配4GB的(de)SD存儲卡。收錄的(de)數(shu)據文(wen)件為GBD或者CSV格式(shi)。

  • GL220 數(shu)據(ju)記錄(lu)儀產(chan)品概述 midi LOGGER GL220采用(yong)(yong)小型、可(ke)(ke)放心測(ce)定的全頻道絕(jue)緣輸入(ru)(ru)方式(shi)。可(ke)(ke)進行電壓/溫度/濕度/脈沖/邏輯(ji)的多(duo)(duo)元輸入(ru)(ru) 根據(ju)客戶要求提供多(duo)(duo)種高速電壓測(ce)定,可(ke)(ke)測(ce)定范圍擴(kuo)展至(zhi)10ms取樣(電壓范圍1ch輸入(ru)(ru)時)。 此外,內置存儲(chu)器中搭載2GB大容量閃存,無需使用(yong)(yong)外部存儲(chu)媒體(ti)即可(ke)(ke)實現長時間的數(shu)據(ju)収錄(lu)。 GL220提高了可(ke)(ke)對應多(duo)(duo)樣化測(ce)量用(yong)(yong)途的功能性(xing)與操作性(xing),從(cong)研究(jiu)

  • GL900-8數(shu)據記錄儀(yi)產(chan)品(pin)概(gai)述 近年來,對于電(dian)(dian)氣產(chan)品(pin)與工業產(chan)品(pin),提高其可(ke)(ke)靠性已(yi)成為(wei)重(zhong)要(yao)的(de)(de)開發要(yao)素。諸如跌(die)落試(shi)驗 振(zhen)動試(shi)驗撞擊試(shi)驗環(huan)境試(shi)驗等,各類*的(de)(de)試(shi)驗應運而生。 尤其是可(ke)(ke)動部與驅動部耐久(jiu)試(shi)驗等,需(xu)反(fan)復進行(xing)(xing)數(shu)萬次(ci)試(shi)驗與數(shu)千小時(shi)(shi)的(de)(de)耐久(jiu)試(shi)驗。在此背景下,測(ce)量(liang)機(ji)器(qi)需(xu)具備可(ke)(ke)進行(xing)(xing)高速(su)取樣與長(chang)時(shi)(shi)間數(shu)據收錄性能、可(ke)(ke)對各類現象(xiang)(電(dian)(dian)壓/溫度/高電(dian)(dian)壓)實現同時(shi)(shi)測(ce)定。 此外(wai),用多種(zhong)產(chan)品(pin)進行(xing)(xing)長(chang)時(shi)(shi)間及耐久(jiu)試(shi)驗

  • GL900-4數(shu)據(ju)記錄儀(yi)產(chan)品概述(shu) 近年來(lai),對于電氣產(chan)品與(yu)工業產(chan)品,提高(gao)其(qi)(qi)可靠性已成為(wei)重要的開發要素。諸如跌落試(shi)(shi)驗(yan)(yan)(yan) 振動(dong)試(shi)(shi)驗(yan)(yan)(yan)撞(zhuang)擊試(shi)(shi)驗(yan)(yan)(yan)環(huan)境試(shi)(shi)驗(yan)(yan)(yan)等(deng),各類(lei)*的試(shi)(shi)驗(yan)(yan)(yan)應運而生。 尤其(qi)(qi)是(shi)可動(dong)部(bu)與(yu)驅動(dong)部(bu)耐久試(shi)(shi)驗(yan)(yan)(yan)等(deng),需反復進行數(shu)萬次(ci)試(shi)(shi)驗(yan)(yan)(yan)與(yu)數(shu)千小(xiao)時(shi)的耐久試(shi)(shi)驗(yan)(yan)(yan)。在此背景下,測(ce)量機器需具備(bei)可進行高(gao)速取樣與(yu)長(chang)時(shi)間數(shu)據(ju)收錄性能、可對各類(lei)現(xian)象(xiang)(電壓/溫度(du)/高(gao)電壓)實(shi)現(xian)同時(shi)測(ce)定。 此外,用(yong)多種產(chan)品進行長(chang)時(shi)間及(ji)耐久試(shi)(shi)驗(yan)(yan)(yan)

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