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6418/C光時域反射計

產品綜述

    6418/C光時域反射計是針對FTTx網絡而設計的一款高性能多功能測試儀器。該產品主要用于測量光纖光纜的長度、傳輸損耗、接頭損耗等光纖物理特性，并能對光纖線路中的事件點、故障點準確定位。廣泛應用于光纖通信系統的工程施工、維護測試及緊急搶修；光纖光纜的研制與生產測試等。

    6418/C外觀結構采用業界zui為先進的雙色雙料一體化模具設計工藝，外觀新穎亮麗、堅固耐用，采用觸摸和按鍵雙重操作方式，操作非常方便；內置高級防反射的LCD顯示單元，即便野外環境下，操作界面也清晰可見；整機具有4路光接口，可同時實現光功率計、VFL、單模及多模測試功能，接口類型可隨意更換，便于清潔光纖端面。該產品具有豐富的外部接口，既可通過以太網接口實現遠程控制，也可通過兩種不同的USB接口，實現外接U盤、打印機及與PC機數據通信。測試結果既可保存在機內，也可通過SD接口保存在SD卡中。機內配備有大容量的鋰電池，工作時間長達8小時以上，適于長時間野外作業。

功能特點

主要特點：

≤0.8m超短事件盲區，測試光纖跳線輕松自如；

45dB大動態范圍，256k數據采樣點；

業界zui先進的雙色雙料一體化模具工藝，堅固耐用；

高級防反射LCD，野外環境下顯示界面清晰可見；

具有多種測試模式、觸摸屏及快捷鍵操作；

通信光自動監測功能；

具有以太網遠程控制功能；

雙USB接口功能，可外接U盤、打印機及通過SyncActive軟件與PC機通信；

支持Bellcore GR196及SR-4731文件格式；

電池低電壓告警功能；

WinCE視窗操作系統，中英文操作界面；

內置可視紅光故障定位（VFL）及光功率計功能；

多種OTDR光輸出頭類型可隨意更換，端面清潔更加方便；

應用軟件在線升級，無需返回原廠。

超短事件盲區

       6418/C具有≤0.8m的超短事件盲區，尤其適于對超短的光纖鏈路或光纖跳線的測試。

快速曲線分析

       6418/C能夠快速準確地分析出測試曲線中的事件點或故障點及其位置信息，并以事件表的形式列出線路中所有的事件信息，這對線路維護人員非常有用，只需觀察事件表即可對被測線路的狀況一目了然。

 快速自動測試

    6418/C的自動測試功能使得用戶無需了解更多的有關該儀器操作的細節，測試步驟變得非常簡單，只需要接入光纖、點擊【測試】按鈕即可，儀器會自動設置zui佳測試條件并zui終給出準確的測試結果，如測試曲線和事件列表等。

*的PON網絡測試功能

    6418/C是光纖接入網及FTTx的理想的測試儀器，內置有*的PON網絡測試功能，能夠透過多達1:128的光分路器，可以實現對PON網絡各分支的精確測試。

可視故障定位（VFL）功能

    6418/C內置的可視紅光故障定位（VFL）功能，具有CW/1Hz/2Hz三種工作模式，可快速發現短距離光纖鏈路中的斷點或大的損耗點位置，以便維護人員及時采取措施，節省時間。

    自動來光監測及告警功能

    當 OTDR測試光纖鏈路時，如果光纖中有通信光信號，會造成測試結果不準確，甚至會對儀器內部的探測器造成不可恢復的損壞。6418/C具有對被測光纖中 的通信光信號自動監測功能，被測光纖只要接入到6418/C的光接口中，儀器便自動感應并監測光纖中是否有通信光信號，一旦監測到有光信號，將及時提示 告警信息，為儀器提供zui快zui及時的保護。

  豐富的外部接口

6418/C標配有豐富的外部接口，如USB、  Min-USB、以太網、耳機及SD接口。因此，  可以實現以下功能：
  外接U盤或SD卡
  外接基于USB接口的打印機
  與PC機數據通信
  通過以太網實現遠程控制
  外接耳機

典型應用

6418/C高性能光時域反射計具有手動測試（實時測試、平均測試）、自動測試和盲區測試3種模式。

手動測試模式：該測試模式適于那些對該儀器比較了解的熟練操作者，因此能夠得到更加準確的測試結果。在手動測試模式中，用戶可根據測試需要選擇實時測試模式或平均測試模式。

實時測試：可快速檢測光纖鏈路的動態變化，應用于需要實時監測或觀察光纖鏈路的對接過程及效果。

平均測試模式：可以盡zui大可能地抑制測試曲線中的噪聲，從而得到更加精確的測試結果。在平均測試模式中，平均次數越大，則對噪聲的抑制效果越好，但測試時間也相應的延長，因此，在實際使用中，可根據需要靈活設置平均次數。

自動測試模式：該模式下，儀器能夠自動設置zui佳測試條件，并給出測試結果，無需操作者了解復雜的背景知識和有關儀器操作的細節。為了提高自動測試的精度，可以適當加大自動測試時的平均次數，但將延長自動測試的時間。

      盲區測試模式：該模式適用于對超短距離光纖的測試，如測試光纖跳線的長度等，在該模式下，如希望儀器獲得zui好的測試結果，要求被測光纖末端的反射損耗（或稱回波損耗）大于40dB。