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3672A/B/C/D/E矢量網絡分析儀

產品(pin)綜述

3672系(xi)列矢(shi)(shi)量(liang)網絡(luo)(luo)(luo)分(fen)析(xi)儀產(chan)品包括3672A（10MHz～13.5GHz）、3672B（10MHz～26.5GHz）、3672C（10MHz～43.5GHz）、3672D（10MHz～50GHz）和3672E（10MHz～67GHz）。3672系(xi)列矢(shi)(shi)量(liang)網絡(luo)(luo)(luo)分(fen)析(xi)儀提供頻響、單端口、響應隔離、增強型(xing)響應、全雙端口、電(dian)校準等(deng)(deng)多(duo)種(zhong)校準方式(shi)，內(nei)設(she)對數幅(fu)度、線(xian)性(xing)(xing)幅(fu)度、駐(zhu)波、相位、群時(shi)延、Smith圓圖(tu)、極坐標等(deng)(deng)多(duo)種(zhong)顯示格式(shi)，外(wai)配(pei)USB、LAN、GPIB、VGA等(deng)(deng)多(duo)種(zhong)標準接口，除具有傳(chuan)統(tong)矢(shi)(shi)量(liang)網絡(luo)(luo)(luo)分(fen)析(xi)儀的全部測(ce)(ce)量(liang)功能外(wai)，還可(ke)以(yi)通過配(pei)置功能選件進行混(hun)頻器/變頻器、增益壓(ya)縮二維(wei)掃描以(yi)及脈沖(chong)狀態下S參數的多(duo)功能綜(zong)合參數測(ce)(ce)試(shi)，能精確(que)測(ce)(ce)量(liang)微(wei)(wei)波網絡(luo)(luo)(luo)的幅(fu)頻特(te)(te)(te)性(xing)(xing)、相頻特(te)(te)(te)性(xing)(xing)和群時(shi)延特(te)(te)(te)性(xing)(xing)。該產(chan)品可(ke)廣泛(fan)應用于發射(she)/接收（T/R）模塊測(ce)(ce)量(liang)、介質材料特(te)(te)(te)性(xing)(xing)測(ce)(ce)量(liang)、微(wei)(wei)波脈沖(chong)特(te)(te)(te)性(xing)(xing)測(ce)(ce)量(liang)和光電(dian)特(te)(te)(te)性(xing)(xing)測(ce)(ce)量(liang)等(deng)(deng)領域，是雷(lei)達、通信、導航(hang)等(deng)(deng)系(xi)統(tong)的科研、生(sheng)產(chan)過程中(zhong)必不可(ke)少(shao)的測(ce)(ce)試(shi)設(she)備。

功能特點

校準類(lei)型靈(ling)活可選，兼容多種校準件(jian)

支(zhi)持多窗(chuang)口(kou)、多通道測(ce)量，快速(su)執行復雜測(ce)試方案

具有(you)對數幅(fu)度(du)、線性幅(fu)度(du)、駐波、Smith圓圖等(deng)多(duo)種顯示格式(shi)

具有(you)USB、GPIB、LAN和VGA接口

中/英文操作界面，12.1英寸1280*800高分辨率多點觸控顯示屏

錄制/運行，一鍵式操作(zuo)簡化測(ce)量設置步驟(zou)，提高工(gong)作(zuo)效率

具有一(yi)體化脈沖S參數測(ce)量(liang)(liang)、時域測(ce)量(liang)(liang)、混頻(pin)器(qi)測(ce)量(liang)(liang)、增益壓縮二維掃描測(ce)量(liang)(liang)、支持(chi)THz擴頻(pin)、天(tian)線與RCS測(ce)量(liang)(liang)接收等功能

人性化用戶界(jie)面簡潔直觀，便于操(cao)作，可(ke)提高測試(shi)效率

校(xiao)準(zhun)類型靈活可(ke)選，兼容多種校(xiao)準(zhun)件(jian)

3672系(xi)列矢量網絡分析儀提供(gong)向導校(xiao)(xiao)(xiao)(xiao)準(zhun)(zhun)(zhun)(zhun)（自動化(hua)校(xiao)(xiao)(xiao)(xiao)準(zhun)(zhun)(zhun)(zhun)）、非向導校(xiao)(xiao)(xiao)(xiao)準(zhun)(zhun)(zhun)(zhun)（使用機械校(xiao)(xiao)(xiao)(xiao)準(zhun)(zhun)(zhun)(zhun)件(jian)進(jin)行直(zhi)通響應(ying)校(xiao)(xiao)(xiao)(xiao)準(zhun)(zhun)(zhun)(zhun)、直(zhi)通響應(ying)與隔離校(xiao)(xiao)(xiao)(xiao)準(zhun)(zhun)(zhun)(zhun)、單(dan)端(duan)口(kou)校(xiao)(xiao)(xiao)(xiao)準(zhun)(zhun)(zhun)(zhun)、增強(qiang)型(xing)響應(ying)校(xiao)(xiao)(xiao)(xiao)準(zhun)(zhun)(zhun)(zhun)、全(quan)雙端(duan)口(kou)SOLT校(xiao)(xiao)(xiao)(xiao)準(zhun)(zhun)(zhun)(zhun)、TRL校(xiao)(xiao)(xiao)(xiao)準(zhun)(zhun)(zhun)(zhun)）、電(dian)校(xiao)(xiao)(xiao)(xiao)準(zhun)(zhun)(zhun)(zhun)（ECal）等多種校(xiao)(xiao)(xiao)(xiao)準(zhun)(zhun)(zhun)(zhun)類(lei)型(xing)，可根據實際測試需(xu)要選擇同(tong)軸(zhou)3.5mm校(xiao)(xiao)(xiao)(xiao)準(zhun)(zhun)(zhun)(zhun)件(jian)以及電(dian)子校(xiao)(xiao)(xiao)(xiao)準(zhun)(zhun)(zhun)(zhun)件(jian)等多種校(xiao)(xiao)(xiao)(xiao)準(zhun)(zhun)(zhun)(zhun)件(jian)，方(fang)便不同(tong)接(jie)口(kou)類(lei)型(xing)器件(jian)的測試。

多窗口顯示所有測量(liang)通道

本(ben)產品具有多(duo)通道和多(duo)窗口顯示功(gong)能，最多(duo)支持64個(ge)通道，最多(duo)可同時顯示16個(ge)測量窗口，每(mei)個(ge)窗口最多(duo)可同時顯示8條測試(shi)軌跡，使觀(guan)測結果更加(jia)直觀(guan)，用(yong)戶使用(yong)更加(jia)方便(bian)。

錄制功能實現一鍵自動化測試

記錄用(yong)戶在使用(yong)儀器過程中所有操作(zuo)步驟，同時(shi)(shi)可(ke)以(yi)隨(sui)時(shi)(shi)插入用(yong)戶編(bian)輯的提(ti)示對(dui)話框，并且準(zhun)時(shi)(shi)彈出(chu)提(ti)示對(dui)話框，等待(dai)用(yong)戶確認，實現(xian)用(yong)戶交互功能，真正實現(xian)了(le)智能儀器一(yi)鍵自動化功能。

 大動態范(fan)圍

3672系列(lie)矢量網(wang)絡分(fen)析儀采用混頻接(jie)收的設(she)計理念，有效擴展整機的測試動(dong)(dong)態范圍(wei)(wei)，可以滿(man)足(zu)您對大(da)動(dong)(dong)態范圍(wei)(wei)的測試需求(qiu)。 

外設(she)接口豐富，靈活實(shi)用

3672系列矢(shi)量(liang)網絡分析儀(yi)采用兼容PC的嵌入式計(ji)算機模塊和Windows操(cao)作(zuo)系統組成的軟硬件平臺(tai)，實現了測(ce)試儀(yi)器(qi)和個人(ren)計(ji)算機的*結合(he)。用戶可以利用豐富的I/O接口(kou)（包括(kuo)GPIB、USB和LAN等）完成數據通訊的zui佳選擇。

   跡(ji)線噪聲小，測量精度高(gao)

3672系(xi)列(lie)矢量(liang)(liang)網(wang)絡分析(xi)儀優異的跡線噪聲指標極大地提高了整機的測試精(jing)(jing)度，可(ke)滿(man)足用戶精(jing)(jing)確(que)測量(liang)(liang)的需要，特別有助于小插損器件的精(jing)(jing)確(que)測量(liang)(liang)。（下圖以3672B為例(li)）

典型應用(yong)

時域分析(xi)可對設(she)計進(jin)行全(quan)面表(biao)征

3672系(xi)列矢(shi)量(liang)網絡分析儀可通過(guo)配置時(shi)域(yu)測量(liang)選件實(shi)現測量(liang)結果頻域(yu)和(he)時(shi)域(yu)之間的(de)切(qie)換，用以確定器件、夾具(ju)或者電纜中的(de)不(bu)連續點位(wei)置，實(shi)現故障精確定位(wei)。

增益(yi)壓縮二維掃描，提高(gao)測試效率

放大(da)器等有(you)源器件的增益壓(ya)縮(suo)(suo)測量應用（S86選件）僅需(xu)一次(ci)設置(zhi)，一次(ci)連接，一次(ci)校(xiao)準就可以得(de)到(dao)放大(da)器在頻域的所有(you)增益壓(ya)縮(suo)(suo)參數(shu)（包括(kuo)壓(ya)縮(suo)(suo)點的輸(shu)入(ru)功率，壓(ya)縮(suo)(suo)點的輸(shu)出功率，壓(ya)縮(suo)(suo)點的增益等）和線性參數(shu)（包括(kuo)線性增益，輸(shu)入(ru)匹(pi)配，輸(shu)出匹(pi)配等）。具(ju)有(you)：

快速準確(que)的智能掃描；

一目了然的向導(dao)校(xiao)準；

方便快(kuai)捷的USB電子校準，USB功率(lv)校準；

二維掃(sao)描(miao)（頻率(lv)點(dian)掃(sao)功(gong)率(lv)和功(gong)率(lv)點(dian)掃(sao)頻率(lv)）一(yi)次完成；

多種壓(ya)縮方(fang)法——從(cong)線性/最(zui)大增益壓(ya)縮、從(cong)飽和(he)態壓(ya)縮、回退(tui)法和(he)X/Y法。

混頻器(qi)/變頻器(qi)測(ce)試

3672系列矢(shi)量網絡分(fen)析(xi)儀四(si)端(duan)口測(ce)量功能(neng)選(xuan)件（400、S82、S83、S84選(xuan)件）具有(you)內置(zhi)雙源，可(ke)以完(wan)成混(hun)頻(pin)(pin)器(qi)/變頻(pin)(pin)器(qi)標量和矢(shi)量參數測(ce)試。

1）混頻(pin)器/變(bian)頻(pin)器標(biao)量參(can)數測量

混頻(pin)器(qi)/變頻(pin)器(qi)標量(liang)(liang)測量(liang)(liang)應(ying)用(yong)選(xuan)件（S82選(xuan)件）可以得到頻(pin)域(yu)的所有標量(liang)(liang)參(can)數（包(bao)括輸(shu)入/輸(shu)出端口匹(pi)配、變頻(pin)增益、輸(shu)入/輸(shu)出端功率等(deng)）。相比以往測試(shi)方法其(qi)優勢在于(yu)：

一(yi)次(ci)連接設置，多參數測試一(yi)次(ci)性完成；

人性化(hua)簡易的校準界面；

方便(bian)快捷的USB電(dian)子(zi)校準，USB功率校準；

內置雙激勵源，無(wu)需額外信號源提(ti)供(gong)本振信號；

基于端口(kou)匹配(pei)的功率校(xiao)準技術；

為用戶解決(jue)高準確度(du)的混頻器標量參數測(ce)試(shi)需求。

 
2）混(hun)頻器/變(bian)頻器矢量參(can)數測(ce)量

矢量混頻/變頻器(qi)件測試(shi)應用選(xuan)件（S83選(xuan)件）集變頻器(qi)件的(de)變頻損耗或增(zeng)益、端口輸入/輸出功率（正向及反向）、駐(zhu)波、相位(wei)及群時延等參(can)數測量于一體(ti)的(de)測試(shi)應用軟(ruan)件。其主要特點包(bao)括：

測(ce)量過程需(xu)使用一個參考混頻器進行表征；

內置雙激勵(li)源，無需(xu)額外(wai)信號源提(ti)供本振信號；

測試(shi)參(can)數全面(mian)，相比于標(biao)量混頻器測試(shi)增加了相位及群時(shi)延(yan)等參(can)數的(de)測試(shi)功能(neng)。

濾波器測(ce)試

3672系列矢量網絡分(fen)析儀(yi)具有(you)濾波器測試菜單，可以(yi)得到濾波器在頻域(yu)的所有(you)通帶指標（包括帶寬，中(zhong)心頻點(dian)頻率、Q值，左截(jie)止頻率、右截(jie)止頻率等(deng)(deng)）和阻帶指標（包括動態范圍(wei)，隔離度等(deng)(deng)）。具有(you)：

快速準確的分(fen)段(duan)掃描；

一目(mu)了然的校準向導；

快(kuai)捷的高精度電子校準(zhun)技術；

通帶(dai)和阻帶(dai)指標一次(ci)測量完成。

一體化脈沖(chong)S參數測試

3672系列矢量(liang)網絡分析儀(yi)具有脈沖(chong)調制信號(hao)輸(shu)出，可以(yi)完成脈沖(chong)狀態下S參數(shu)測試(shi)。具有：

內置四(si)通道脈(mo)沖發(fa)生器和脈(mo)沖調制(zhi)(zhi)器，端口1、3可輸(shu)出(chu)脈(mo)沖調制(zhi)(zhi)信(xin)號(hao)；

完(wan)整的脈(mo)沖解決(jue)方(fang)案，可在寬帶模式和窄(zhai)帶模式下進行脈(mo)沖內定點、脈(mo)沖包絡和掃頻(pin)脈(mo)沖測量；

可與外部(bu)脈(mo)沖(chong)發生(sheng)器和脈(mo)沖(chong)調制器同步，實現復雜脈(mo)沖(chong)同步測試。

自(zi)動化測(ce)試

通過GPIB總線接口、網(wang)口提供靈(ling)活多樣的控制方(fang)式，只需完成設備的互聯，發送命令即(ji)可(ke)。為您提供一體(ti)化自動(dong)(dong)測(ce)試方(fang)案，包括(kuo)自動(dong)(dong)校準、自動(dong)(dong)測(ce)量(liang)、自動(dong)(dong)讀取、自動(dong)(dong)打印等。具有：

簡單的控制方式，一根網線、一個GPIB卡；

有效的降(jiang)低(di)成本，解放有限的人力資源；

在有效的時間內完成更多的測試，大大縮短開發周期(qi)；

完成人工不可能完成的(de)任(ren)務，如精確時間控制(zhi)，復雜(za)環境下的(de)測試等(deng)。

 
高(gao)速信號完整性測試

支持多端口(kou)(kou)Touchstone 格(ge)式(shi)的S參數導(dao)出，并(bing)且(qie)支持大(da)端口(kou)(kou)數據導(dao)入(ru)

支持時域TDR 的快速測試與(yu)顯示(shi)

支持混合模S參數的快速定義和測試(shi)

方便設置(zhi)差分(fen)對和設置(zhi)串(chuan)擾里的攻擊線(xian)和受害(hai)線(xian)，求取(qu)近端串(chuan)擾和遠端串(chuan)擾

內置FEXT、NEXT、PSXT、ILD、ICN 和ICR 繪(hui)圖

支持眼圖(tu)生成，內(nei)置眼圖(tu)的模板測試功(gong)能

支持行業標準電氣層測(ce)試，包含USB Type C、IEEE 802.3,OIF CEI-25G/28G 等，并可(ke)以自定義標準

內(nei)置(zhi)延時和(he)抖(dou)動計(ji)算(suan)模塊，方便進行(xing)對(dui)內(nei)延時和(he)對(dui)間延時計(ji)算(suan)

包含調整端口順序(xu)、S 參(can)數(shu)拆分和S 參(can)數(shu)合并(bing)等專業(ye)S 參(can)數(shu)處理功能

內(nei)置報告模板(ban)，一鍵(jian)式繪制各種曲(qu)線，自動生成(cheng)相(xiang)應(ying)的word 和ppt文(wen)檔

內嵌(qian)多種去(qu)嵌(qian)方(fang)(fang)法，其中自動(dong)(dong)直通(tong)夾(jia)具(ju)去(qu)嵌(qian)則用(yong)于(yu)移除測試夾(jia)具(ju)的(de)影響，從而獲得被測器件的(de)S 參數；自動(dong)(dong)端(duan)口(kou)延(yan)伸可方(fang)(fang)便(bian)的(de)利用(yong)開路或短(duan)路補(bu)償夾(jia)具(ju)的(de)損(sun)耗和相位(wei)，減少夾(jia)具(ju)對測試結果的(de)影響。