IM3536LCR測試儀產品概述DC，4Hz~8MHz測量頻率，今后的標桿產品● 測量頻率DC，4Hz~8MHz● 測量時間：較快1ms● 基本精度：±0.05% rdg● 1mΩ以上的精度保證范圍，也可安心進行低阻測量● 可內部發生DC偏壓測量● 從研發到(dao)生產線活(huo)躍在各種領域中
更新時間：2017-07-26
IM3536LCR測試儀產品(pin)概述(shu)
DC，4Hz~8MHz測量頻率，今后的標(biao)桿產(chan)品(pin)
● 測量頻率DC，4Hz~8MHz
● 測量時間：最快1ms
● 基本精度(du)：±0.05% rdg
● 1mΩ以上的精(jing)度保證范圍(wei)，也可(ke)安心(xin)進行低阻測量
● 可內部發生DC偏壓(ya)測量
● 從研發(fa)到生產線活躍在各種領域中
IM3536LCR測試儀產品特點
根據JIS標(biao)準測試(shi)電(dian)解電(dian)容(rong)器，電(dian)解電(dian)容(rong)的電(dian)容(rong)值在不同測試(shi)頻率下容(rong)值差異較大，因此需(xu)要根據實際(ji)回(hui)路(lu)的工作頻率來確(que)認電(dian)容(rong)值。
LCR測試(shi)儀(yi)IM3536寬測試(shi)頻率范圍DC,4Hz~8MHz，適用于(yu)以上產品特性(xing)評估。
陶瓷電(dian)容(rong)器可分為，隨電(dian)壓(ya)變化的高介電(dian)常數型和溫度補償型。JIS標(biao)準針對兩(liang)種(zhong)陶瓷電(dian)容(rong)特性有不同(tong)的測試要(yao)(yao)求(qiu)。使用LCR測試儀IM3536的頻率范圍DC,4Hz~8MHz，內置電(dian)壓(ya)范圍10mV~5V，非常適合用于以(yi)上兩(liang)種(zhong)不同(tong)要(yao)(yao)求(qiu)的電(dian)容(rong)測試。
電感器（線圈）所(suo)具(ju)備的(de)電感和線圈的(de)寄生電容中(zhong)將LC共振(zhen)現象稱為(wei)自(zi)諧(xie)振(zhen)。 將產生這種自(zi)諧(xie)振(zhen)的(de)頻(pin)率(lv)(lv)稱為(wei)自(zi)諧(xie)振(zhen)頻(pin)率(lv)(lv)。在評估線圈時(shi)請在比自(zi)諧(xie)振(zhen)頻(pin)率(lv)(lv)更(geng)低(di)的(de)頻(pin)率(lv)(lv)下測量L和Q。
LCR測試儀IM3536的測量頻率很廣，可以(yi)設置為DC、4 Hz～8 MHz，可以(yi)任意改(gai)變測試頻率進行測試。
LCR測(ce)(ce)試儀(yi)IM3536的測(ce)(ce)量(liang)(liang)頻率(lv)較廣(guang)，可以設(she)置為DC、4 Hz～8 MHz，非常適合于評估(gu)連續改變頻率(lv)的測(ce)(ce)量(liang)(liang)。在計算機中安(an)裝附件(jian)LCR采用應用軟件(jian)（CD-R），并通過(guo)接口(kou)（USB, GP-IB, RS-232C），可以進(jin)行(xing)掃頻功能(neng)，自動測(ce)(ce)量(liang)(liang)出的測(ce)(ce)量(liang)(liang)數(shu)值能(neng)夠(gou)以Excel或CSV格(ge)式進(jin)行(xing)保存。
寬頻(pin)率(lv)范圍的(de)(de)LCR非常(chang)適用(yong)于研發和評估(gu)不同工作頻(pin)率(lv)范圍下壓(ya)(ya)電元器(qi)件(jian)和線圈等(deng)的(de)(de)諧振(zhen)(zhen)頻(pin)率(lv)。推薦(jian)用(yong)于評估(gu)壓(ya)(ya)電元件(jian)和線圈的(de)(de)共振(zhen)(zhen)頻(pin)率(lv)。若(ruo)使用(yong)應用(yong)軟(ruan)(ruan)件(jian)※則(ze)能(neng)夠簡單的對頻率(lv)、電(dian)壓和電(dian)流進行掃描(miao)和測量。
可變頻率：DC, 4 Hz?8 MHz
電壓可(ke)變(bian)：10 mV?5 V（V模式/CV模式）
電流可變：10 μA?100 mA（CC模式）
※能夠使用計算機設置掃頻（或電壓(ya)、電流），并將測量(liang)數(shu)據以CSV或Excel格式保存。應用軟件請(qing)使用標配的(de)CD進行(xing)安裝，或從HP中下載。
連(lian)續測量功能：希(xi)望(wang)以1kHz檢查(cha)電(dian)源電(dian)感的L-Q，還想檢查(cha)直流電(dian)阻（Rdc）。這時，1臺(tai)IM3536就可以在2種測試要求下進行連(lian)續高速(su)測試。
IM3536LCR測試儀選(xuan)型(xing)指(zhi)南
測量模式 | LCR（單一條件下測(ce)量），連續測(ce)量（保存條件下連續測(ce)量） |
測(ce)量參(can)數 | Z, Y, θ, X, G, B, Q, Rdc（直流電(dian)阻），Rs (ESR), Rp, Ls, Lp, Cs, Cp, D (tanδ), σ, ε |
測量(liang)(liang)量(liang)(liang)程 | 100 mΩ~100 MΩ, 10檔(dang)量(liang)程（所有參數由Z規定(ding)） |
顯(xian)示(shi)范圍 | Z: 0.00 m~9.99999 GΩ, Y: 0.000 n~9.99999 GS, θ: ± (0.000°~999.999°), Q: ± (0.00~9999.99), Rdc: ± (0.00 m~9.99999 GΩ), D: ± (0.00000~9.99999), Δ%: ± (0.000 %~999.999 %)等(deng) |
基本(ben)精度(du) | Z: 0.05 % rdg. θ: 0.03°（代(dai)表值，精度保(bao)證范圍：1mΩ~200MΩ） |
測(ce)量頻率 | 4 Hz~8 MHz (10 mHz~100 Hz步進) |
測量信號(hao)電平 | [V模(mo)式(shi), CV模(mo)式(shi)]的[通常模(mo)式(shi)] |
DC偏壓 | 發生范圍：DC電壓(ya)0~2.50 V (低Z高精度(du)模(mo)式時(shi)0 ~1 V) |
輸出阻抗 | 通(tong)常(chang)模式：100 Ω, 低(di)Z高精度(du)模式: 10 Ω |
顯(xian)示 | 彩色TFT5.7英寸，觸摸(mo)屏 |
功能 | 比較器、BIN測量（2個(ge)項(xiang)目(mu)10種分類），觸發功(gong)能、開路·短路補償、接觸檢查、面板保存(cun)·讀取功(gong)能、存(cun)儲功(gong)能 |
接口 | EXT I/O (處理(li)器), /USB/U盤/LAN/GP-IB/RS-232C, BCD輸出 |
電源 | AC 100~240 V, 50/60 Hz, 50 VA max |
體(ti)積及重量 | 330W × 119H × 230D mm, 4.2 kg |
附件 | 電源(yuan)線×1,使用(yong)說明書(shu)×1,CD-R（通(tong)訊說明書(shu)，LCR應(ying)用(yong)光盤）×1 |
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